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全自動晶圓探針臺

適應4~12寸晶圓測可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測試環境配置 設備簡單易用、性能穩定，具備高度、高效率、低振動和低噪聲

CP300半自動探針臺

CP300系列|300mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試， 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。

CP200半自動探針臺

CP200系列|200mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。